在神州視覺(jué)AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測儀)20多種算法中有一種算法稱(chēng)為Missing算法，是專(zhuān)門(mén)針對電容缺件的圖像處理算法。它是通過(guò)比對標準電容兩個(gè)電極的外接矩形和待測電容兩個(gè)電極的外接舉行的面積差異，來(lái)判斷和檢測電極是否發(fā)生缺件。如下示意：

　　上圖為發(fā)生缺件時(shí)的元件示意圖，①為正常元件的兩端高亮電極區域的外接矩形，②為發(fā)生缺件時(shí)的兩端高亮區域的外接矩形，則Missing算法下的差異值如下：

　　Result = (S2 - S1)/ S1 – 1

　　其中S2為外接矩形B的面積，S1為外接矩形A的面積。

　　提示：Missing算法的默認判定范圍為(0， 15)。