算法應用，是AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測儀)算法應用于檢測領(lǐng)域的關(guān)鍵部分。神州視覺(jué)AOI 具備20多種算法，每一種算法都有它的特別用途。所以在熟悉和理解各種AOI算法的基礎上，使用AOI算法應用于各個(gè)檢測項，是AOI工程師制作檢測程序的前提。

　　錯件，主要是用于檢測元件本體的檢測，檢測該元件是否發(fā)生錯料。該檢測項是AOI檢測的常規檢測項。錯件可采用四種檢測算法，其四種檢測算法分別為T(mén)OC算法、OCV算法、Match算法和OCR算法。每個(gè)錯件的檢測算法針對檢測項目的偏重不一樣。

　　TOC算法類(lèi)的錯件檢測，主要用于非字符類(lèi)元件的錯件檢測，該類(lèi)元件主要為電容。該類(lèi)檢測法是通過(guò)抽取元件的本體色，判斷元件本體色是否改變，來(lái)檢測元件的錯件。其中元件的本體色參數，無(wú)默認參數，是根據實(shí)際的本體色給出的色彩抽取參數。

　　OCV算法類(lèi)的錯件檢測，主要用于清晰字符類(lèi)的錯件檢測，該類(lèi)元件主要為電阻。該類(lèi)檢測法是通過(guò)獲取待測字符輪廓與標準字符的字符輪廓的擬合程度，來(lái)判斷元件是否發(fā)生錯件。該類(lèi)檢測的判定參數的默認范圍為(0， 12)。如標準字符為“123”，待測字符為“351”，擬合返回值為28.3，判定范圍為(0， 12)，則該元件發(fā)生“錯件”。

　　Match類(lèi)檢測算法，主要是用于模糊字符類(lèi)的錯件檢測，該類(lèi)元件主要為二極管、三極管等。該類(lèi)檢測算法主要是通過(guò)獲取待測字符區域與標準字符區域的相似程度，來(lái)判定元件是否發(fā)生“錯件”。該類(lèi)錯件的判定范圍默認為(0，32)。

　　OCR類(lèi)檢測算法，主要是用于重要部件的元件的檢測，該類(lèi)元件主要為BGA、QFP、BGA等。該類(lèi)算法主要是通過(guò)識別待測字符，判定待測字符是否與標準字符一致來(lái)檢測和判斷是否發(fā)生錯件。如標準字符為“123”，實(shí)際字符為“122”，則OCR算法判斷該類(lèi)元件發(fā)生“錯件”。